雙光束掃描型可見(jiàn)分光光度計(jì)是實(shí)驗(yàn)室常規(guī)分析設(shè)備，它利用光譜分析方法對(duì)樣品進(jìn)行定性、定量分析，在有機(jī)化學(xué)、無(wú)機(jī)化學(xué)、生物化學(xué)、生命科學(xué)、藥品分析、食品檢驗(yàn)、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)保、地質(zhì)、冶金、石油、機(jī)械、商檢和農(nóng)業(yè)等各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。

掃描型分光光度計(jì)通過(guò)PC掃描軟件可直接聯(lián)機(jī)操作，進(jìn)行光度測(cè)量，定量分析(含標(biāo)準(zhǔn)曲線功能)、波長(zhǎng)掃描、多波長(zhǎng)測(cè)試、DNA/蛋白質(zhì)和核酸測(cè)試等。

掃描型分光光度計(jì)的基線平直度調(diào)整說(shuō)明：

基線平直度是指掃描透射比為100和0時(shí)基線傾斜或彎曲的程度。如果基線的平直性差，就會(huì)使樣品的吸收光譜中各吸收峰之間的比值發(fā)生變化，給定性分析造成錯(cuò)誤。導(dǎo)致基線不平直的主要原因是儀器的光學(xué)系統(tǒng)失調(diào)，兩光束不平衡。如儀器受震動(dòng)，光源位置變動(dòng)等都會(huì)引起光學(xué)系統(tǒng)故障(基線平直度要以吸光度表示)。有些設(shè)備對(duì)基線平直非常敏感，容易超出規(guī)程標(biāo)準(zhǔn)，因此在進(jìn)行此項(xiàng)測(cè)量時(shí)要使機(jī)器充分預(yù)熱，光譜帶寬設(shè)為2 nm，并且在儀器遮光罩關(guān)閉后穩(wěn)定2 min后再進(jìn)行波長(zhǎng)掃描。